发明名称 X射线安全检查设备的透明防辐射罩
摘要 X射线安全检查设备的透明防辐射罩,设有金属框架,在金属框架的两侧设有侧罩板,在其顶部设有上罩板,侧罩板与上罩板组成待检货物通道,在待检货物通道内挂设有多条无缝拼接地辐射屏蔽条,所述的上罩板由透明玻璃和镀设在透明玻璃上的光子晶体膜组成,实现透明安检设备,发明的目的就是弥补现有设备的缺点,更有效地防护经常过安检乘客的健康安全。
申请公布号 CN104008784B 申请公布日期 2017.04.05
申请号 CN201410216909.0 申请日期 2014.05.22
申请人 河南科技大学 发明人 李萍;陈雯;李振伟;雷茂生;宋霄薇;赵鹏
分类号 G21F1/02(2006.01)I;G21F1/12(2006.01)I 主分类号 G21F1/02(2006.01)I
代理机构 洛阳公信知识产权事务所(普通合伙) 41120 代理人 罗民健
主权项 X射线安全检查设备的透明防辐射罩,设有金属框架,在金属框架的两侧设有侧罩板,在其顶部设有上罩板,侧罩板与上罩板组成待检货物通道,在待检货物通道内挂设有多条无缝拼接地辐射屏蔽条,所述的上罩板由透明玻璃和镀设在透明玻璃上的光子晶体膜组成,光子晶体膜是由5层硫化锌和5层氟化镁相互交替叠加构成(AB)<sub>8</sub>(CD)<sub>8</sub>(EF)<sub>8</sub>(HL)<sub>8</sub>(MN)<sub>8</sub>型复合结构,其中A介质、C介质、E介质、H介质和M介质的成份均相同,为硫化锌,B介质、D介质、F介质、L介质和N介质的成份均相同,为氟化镁,A介质的厚度为2.69nm,B介质的厚度为5.07nm,C介质的厚度为1.92nm,D介质的厚度为3.62nm,E介质的厚度为1.153nm,F介质的厚度为2.17nm,H介质的厚度为0.865nm,L介质的厚度为1.63nm,M介质的厚度为0.67nm,N介质的厚度为1.26nm,A介质贴合透明玻璃设置。
地址 471000 河南省洛阳市涧西区西苑路48号