发明名称 光照下介质材料电阻率测试装置及方法
摘要 本发明提供一种光照下介质材料电阻率测试装置及方法。一种光照下介质材料电阻率测试装置包括:靶室、用于模拟光照环境的太阳模拟器、石英窗、真空抽气系统、介质材料、用于控制介质材料保持温度恒定的温度控制装置、工作台、电压源、给温度控制装置供电的电源和静电计;石英窗安装在靶室的顶部;工作台安装在靶室的底面上;温度控制装置放置于工作台上;介质材料放置于温度控制装置上;电压源、电源、静电计、太阳模拟器和真空抽气系统分别位于靶室外部;电压源的一端与介质材料的电压极相连,另一端接地;电源与温度控制装置相连;静电计的一端与介质材料的保护电极相连,静电计的另一端接地。本发明可以提高光照下介质材料电阻率测试的准确度。
申请公布号 CN103760422B 申请公布日期 2017.04.05
申请号 CN201310722884.7 申请日期 2013.12.24
申请人 兰州空间技术物理研究所 发明人 李得天;王俊;杨生胜;秦晓刚;柳青;史亮;汤道坦;陈益峰;赵呈选
分类号 G01R27/14(2006.01)I 主分类号 G01R27/14(2006.01)I
代理机构 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 代理人 孟阿妮
主权项 一种光照下介质材料电阻率测试装置,其特征在于,包括:靶室、用于模拟光照环境的太阳模拟器、用于透光的石英窗、用于将所述靶室抽成真空的真空抽气系统、介质材料、用于控制所述介质材料保持温度恒定的温度控制装置、工作台、电压源、给所述温度控制装置供电的电源和静电计;其中,所述石英窗安装在所述靶室的顶部;所述工作台安装在所述靶室的底面上;所述温度控制装置放置于所述工作台上;所述介质材料放置于所述温度控制装置上,所述介质材料上表面镀有环电极和保护电极,所述介质材料的下表面镀有电压极,所述电压极与位于所述靶室外部的电压源相连,所述保护电极与位于所述靶室外部的静电计相连,所述环电极接地;所述电压源、电源、静电计、太阳模拟器和真空抽气系统分别位于所述靶室外部;所述电压源的一端与介质材料的电压极相连,所述电压源的另一端接地;所述电源与所述温度控制装置相连;所述静电计的一端与介质材料的保护电极相连,所述静电计的另一端接地;所述太阳模拟器正对所述石英窗且位于所述石英窗的上方;所述真空抽气系统紧贴所述靶室的外壁。
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