发明名称 一种实现稳定测温的测温装置及其所在的半导体设备
摘要 本发明公开了一种实现稳定测温的测温装置及其所在的半导体设备,通过在测温装置的绝缘管内部设置热电极固定装置,将所述两根热电极与所述绝缘管保持相对固定,从而使得测量端与待测温物体的表面接触良好,避免了日常设备维护时,热电极由于维护过程中的拖拽与绝缘管发生滑移,从而影响测量结果的现象,保证了测量结果的稳定性和准确性,同时在绝缘管下方设置一弹簧,通过弹簧的弹力使得测量端与被测物体接触良好的同时,避免了测温装置与被测温物体的刚性接触导致的被测温物体破裂。
申请公布号 CN104296887B 申请公布日期 2017.04.05
申请号 CN201310299429.0 申请日期 2013.07.17
申请人 中微半导体设备(上海)有限公司 发明人 左涛涛;吴狄;倪图强
分类号 G01K7/02(2006.01)I;H01L21/66(2006.01)I 主分类号 G01K7/02(2006.01)I
代理机构 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人 王洁
主权项 一种实现稳定测温的测温装置,包括两根材料不同的热电极,以及所述热电极的结合端,其特征在于:所述热电极外环绕设置一绝缘管,所述绝缘管内设置固定装置,用以将两根热电极与所述绝缘管固定连接;所述热电极的结合端包括一测量端和一自由端,所述固定装置包括至少两个与所述绝缘管固定连接的固定环,所述固定环靠近所述测量端设置,该两根热电极分别位于一个固定环内。
地址 201201 上海市浦东新区金桥出口加工区(南区)泰华路188号