发明名称 |
一种显示基板、其测试方法及制备方法 |
摘要 |
本发明公开了一种显示基板、其测试方法及制备方法,显示基板中第一测试端子与第一薄膜晶体管的栅极相连,第二测试端子分别与第一薄膜晶体管的源极和第二薄膜晶体管的漏极相连,第三测试端子与第二薄膜晶体管的栅极相连,第四测试端子分别与第一薄膜晶体管的漏极和所述第二薄膜晶体管的源极相连,对上述显示基板进行测试时,显示基板旋转180度前后第一探针对第一测试端子和第三测试端子加载的栅极电压信号相同;第二探针对第二测试端子和第四测试端子加载的数据信号相同。相较于现有技术中显示基板的测试,本发明实施例提供的显示基板无需改变探针的位置和加载的信号,就可以完成对显示基板的测试,避免了显示基板测试过程繁琐耗时的问题。 |
申请公布号 |
CN104362156B |
申请公布日期 |
2017.04.05 |
申请号 |
CN201410692290.0 |
申请日期 |
2014.11.25 |
申请人 |
合肥鑫晟光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
发明人 |
蔡振飞;陈健;徐朝换;陈正伟 |
分类号 |
H01L27/12(2006.01)I;H01L23/544(2006.01)I;H01L21/66(2006.01)I |
主分类号 |
H01L27/12(2006.01)I |
代理机构 |
北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 |
代理人 |
黄志华 |
主权项 |
一种显示基板,具有至少一个测试区,其特征在于,在所述测试区内包括:大小和极性相同的第一薄膜晶体管和第二薄膜晶体管、第一测试端子、第二测试端子、第三测试端子和第四测试端子;其中,所述第一测试端子与所述第一薄膜晶体管的栅极相连,所述第二测试端子分别与所述第一薄膜晶体管的源极和所述第二薄膜晶体管的漏极相连,所述第三测试端子与所述第二薄膜晶体管的栅极相连,所述第四测试端子分别与所述第一薄膜晶体管的漏极和所述第二薄膜晶体管的源极相连;所述测试区的形状为矩形;所述第一测试端子和第三测试端子分别位于所述矩形中呈对角的两个顶点,所述第二测试端子和第四测试端子分别位于所述矩形中呈对角的两个顶点。 |
地址 |
230011 安徽省合肥市新站区工业园内 |