发明名称 高频DC‑DC降压拓扑和集成芯片以及相关系统
摘要 本申请公开了一种高频DC‑DC降压拓扑及其集成芯片,本申请公开的所述高频DC‑DC降压拓扑中设置有所述第一MOS管和所述谐振电感,使得所述高频DC‑DC降压拓扑中的第二MOS管与第三MOS管实现了零电压导通,即本申请提供的所述高频DC‑DC降压拓扑中的开关管全部实现了软开关控制,因此本申请提供的高频DC‑DC降压拓扑明显降低了在甚高频状态下工作时的能量损耗。
申请公布号 CN104242646B 申请公布日期 2017.04.05
申请号 CN201410552905.X 申请日期 2014.10.17
申请人 中国科学院微电子研究所 发明人 李志强;张雪;萧延彬;张海英
分类号 H02M3/155(2006.01)I 主分类号 H02M3/155(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 王宝筠
主权项 一种高频DC‑DC降压拓扑,其特征在于,包括:源极与电源Vin相连的第一MOS管和第二MOS管,所述第一MOS管的漏极和所述第二MOS管漏极通过谐振电感相连;第一端与所述第二MOS管的漏极相连的主功率电感;一端与所述主功率电感第二端相连、另一端接地的负载电阻;一端与所述主功率电感第二端相连、另一端接地的负载电容;漏极与所述主功率电感的第一端相连、源极接地的第三MOS管;其中所述第二MOS管与所述谐振电感的公共端作为第一节点SW;所述第一MOS管和第二MOS管为PMOS管,所述第三MOS管为NMOS管;所述高频DC‑DC降压拓扑工作在五种工作阶段,所述五种工作阶段,包括:第一工作阶段:第一MOS管导通,第二MOS管、第三MOS管关断;第二工作阶段:第一MOS管关断,第二MOS管导通,第三MOS管关断;第三工作阶段:第一至第三MOS管关断;第四工作阶段:所述第三MOS管导通,第一MOS管、第二MOS管关断;第五工作阶段:第一至第三MOS管关断。
地址 100029 北京市朝阳区北土城西路3号
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