发明名称 |
操作非易失性存储装置的方法和非易失性存储装置 |
摘要 |
提供了一种操作非易失性存储装置的方法和非易失性存储装置。所述操作非易失性存储装置的方法的步骤包括:对多个存储块中的第一存储块执行第一存储操作;当在完成第一存储操作之后在等于或大于参考区间的区间期间状态信号指示非易失性存储装置的就绪状态时,对第一存储块的一部分执行固化操作。所述非易失性存储装置包括多个存储块,每个存储块包括相对于基底沿垂直方向延伸的多个垂直串。 |
申请公布号 |
CN106558343A |
申请公布日期 |
2017.04.05 |
申请号 |
CN201610842047.1 |
申请日期 |
2016.09.22 |
申请人 |
三星电子株式会社 |
发明人 |
姜东求;尹翔镛;张俊锡 |
分类号 |
G11C16/16(2006.01)I;G11C16/24(2006.01)I |
主分类号 |
G11C16/16(2006.01)I |
代理机构 |
北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 |
代理人 |
刘灿强;韩明花 |
主权项 |
一种操作非易失性存储装置的方法,其中,非易失性存储装置包括多个存储块,每个存储块包括相对于基底沿垂直方向延伸的多个垂直串,所述方法包括以下步骤:对所述多个存储块中的第一存储块执行第一存储操作;以及当在完成第一存储操作之后在等于或大于参考区间的区间期间状态信号指示非易失性存储装置的就绪状态时,对第一存储块的一部分执行固化操作。 |
地址 |
韩国京畿道水原市 |