发明名称 Vorrichtung und Verfahren für einen ESD-Schutz eines Halbleiters
摘要 Gemäß einer Ausführungsform umfasst ein Schaltkreis zum Schutz gegen elektrostatische Entladungen (ElectroStatic Discharge protection circuit, ESD-Schutzschaltkreis) einen ersten Transistor, der aufweist: einen ersten Source/Drain, der mit einer ersten Eingangs-/Ausgangsklemme verbunden ist, einen zweiten Source/Drain, der mit einer ersten Bezugsspannungsklemme verbunden ist, und ein Gate, das mit einer zweiten Bezugsspannungsklemme verbunden ist. Der ESD-Schutzschaltkreis umfasst außerdem einen Gleichstromsperrkreis (Direct Current blocking circuit, DC-Sperrkreis), der aufweist: einen ersten Eingangs-/Ausgangsknoten, der mit der ersten Eingangs-/Ausgangsklemme verbunden ist, einen zweiten Eingangs-/Ausgangsknoten, der konfiguriert ist, um mit einem Nutzschaltkreis verbunden zu werden, und einen dritten Eingangs-/Ausgangsknoten, der mit einem Gate des ersten Transistors verbunden ist.
申请公布号 DE102016218598(A1) 申请公布日期 2017.03.30
申请号 DE201610218598 申请日期 2016.09.27
申请人 Infineon Technologies AG 发明人 Bakalski, Winfried
分类号 H01L23/60;H01L27/06 主分类号 H01L23/60
代理机构 代理人
主权项
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