发明名称 Superjunction-Halbleitervorrichtung mit entgegengesetzt dotierten Halbleiterbereichen, die in Gräben ausgebildet sind, und Verfahren zur Herstellung
摘要 Eine Grabenätzmaske (410) wird auf einer Prozessoberfläche (101a) einer Halbleiterschicht (100a) ausgebildet. Durch Verwenden der Grabenätzmaske (410) werden sowohl erste Gräben (161) als auch zweite Gräben (162) gebildet, die sich von der Prozessoberfläche (101a) in die Halbleiterschicht (100a) erstrecken. Die ersten und zweiten Gräben (161, 162) wechseln sich entlang zumindest einer horizontalen Richtung parallel zu der Prozessoberfläche (101a) ab. Erste Halbleiterbereiche (171) eines ersten Leitfähigkeitstyps werden in den ersten Gräben (161) ausgebildet, und zweite Halbleiterbereiche (172) eines zweiten, entgegengesetzten Leitfähigkeitstyps werden in den zweiten Gräben (162) ausgebildet.
申请公布号 DE102015116576(A1) 申请公布日期 2017.03.30
申请号 DE201510116576 申请日期 2015.09.30
申请人 Infineon Technologies Austria AG 发明人 Meiser, Andreas;Hirler, Franz
分类号 H01L29/06;H01L21/308;H01L21/336;H01L29/78 主分类号 H01L29/06
代理机构 代理人
主权项
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