| 摘要 |
Die vorliegende Erfindung behandelt eine Temperierkammer, die zusammen mit einer Belastungseinrichtung, wie z. B. einer Materialprüfmaschine des Typs Säulenmaterialprüfmaschine, eine Material- und/oder Bauteil-Probe einfassen kann, es kann auch gesagt werden umschließen kann, wodurch eine optische Messerfassung der Änderungen der Material- und/oder Bauteil-Probe unter ausgewählten thermischen und/oder atmosphärischen Umgebungsbedingungen gemessen werden kann. Dank eines günstig gestalteten Hintergrundbeleuchtungselements ist es möglich, eine äußerst platzsparende Temperierkammer zu realisieren. |
