发明名称 质谱仪
摘要 一种元素质谱仪使用滤质器从接收自离子源的离子选择离子,且发射所述选定离子。反应或碰撞池接收所述所发射的离子,且使这些离子与气体反应或碰撞以借此提供产物离子。质量分析仪接收所述产物离子,对其进行分析,且基于所述经分析离子的检测提供至少一个输出。所述元素质谱仪经操作以从所述质量分析仪提供测量包含所要质荷比M的质荷比的第一分析范围内的离子的第一输出,从所述质量分析仪提供测量包含比所述所要质荷比低至少0.95原子质量单位的质荷比(M‑i)的质荷比的第二分析范围内的离子的第二输出,i≥0.95,且基于所述第二输出校正所述第一输出。
申请公布号 CN106548920A 申请公布日期 2017.03.29
申请号 CN201610803953.0 申请日期 2016.09.06
申请人 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司 发明人 L·洛特曼恩;A·马卡罗夫;H·J·舒鲁特;C·韦厄
分类号 H01J49/42(2006.01)I;H01J49/10(2006.01)I 主分类号 H01J49/42(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 沙永生;乐洪咏
主权项 一种元素质谱仪,其包括:离子源,其用于产生离子;滤质器,其经布置以接收由所述离子源产生的离子,以从所述所接收的离子选择质荷比的滤波器范围的离子且发射所述选定离子;反应或碰撞池,其经配置以接收由所述滤质器发射的离子且使所述所接收的离子与气体反应或碰撞并借此提供产物离子;质量分析仪,其经布置以从所述反应或碰撞池接收所述产物离子,以在质荷比的一或多个分析范围内分析所述所接收的离子,并基于所述所分析离子的检测提供至少一个输出;以及控制器,其经配置以操作所述元素质谱仪,以便从所述质量分析仪提供测量包含所要质荷比M的质荷比的第一分析范围内的离子的第一输出,从所述质量分析仪提供测量包含比所述所要质荷比低至少0.95原子质量单位的质荷比(M‑i)的质荷比的第二分析范围内的离子的第二输出,i≥0.95,且基于所述第二输出校正所述第一输出。
地址 德国不来梅