发明名称 | 一种高反射自由曲面非接触测量方法和系统 | ||
摘要 | 本发明涉及一种高反射自由曲面非接触测量方法,包括下列步骤:1)借助于LCD显示器和三相机获取物点坐标和法线信息:使用LCD显示器投射编码相移条纹,由相机获取经被测物体表面反射的LCD显示器上的相移条纹;借助于LCD显示器位置改变,获取入射光线所在的入射光平面;使用双相机获得的两个入射光平面,并由入射光平面求交获得入射光线信息;使用反射光线和入射光平面求交或反射光线和入射光线求交计算物点坐标信息;使用反射光线和入射光线获取物点法线信息;2)采用径向基插值法或梯度积分法对获取的物点坐标和法线信息进行插值或梯度积分,获取物点的精确三维信息。本发明测量速度快,非接触,对高反射物体表面无损伤。 | ||
申请公布号 | CN106546192A | 申请公布日期 | 2017.03.29 |
申请号 | CN201610888441.9 | 申请日期 | 2016.10.12 |
申请人 | 上海大学 | 发明人 | 张旭;李晨;屠大维 |
分类号 | G01B11/25(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/25(2006.01)I |
代理机构 | 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 | 代理人 | 陆聪明 |
主权项 | 一种高反射自由曲面非接触测量方法,其特征在于,包括下列步骤:1)借助于LCD显示器和三相机获取物点坐标和法线信息:使用LCD显示器投射编码相移条纹,由相机获取经被测物体表面反射的LCD显示器上的相移条纹;借助于LCD显示器位置改变,获取入射光线所在的入射光平面;使用双相机获得的两个入射光平面,并由入射光平面求交获得入射光线信息;使用反射光线和入射光平面求交或反射光线和入射光线求交计算物点坐标信息;使用反射光线和入射光线获取物点法线信息;2)采用径向基插值法或梯度积分法对获取的物点坐标和法线信息进行插值或梯度积分,获取物点的精确三维信息。 | ||
地址 | 200444 上海市宝山区上大路99号 |