发明名称 散热片偏移检测方法及装置
摘要 本发明是一种散热片偏移检测方法及装置,包括:一散热片边角位置取得步骤:搜寻散热片影像的边界线,并以散热片影像的边界线推算散热片影像的第一边角位置;一基板边角位置取得步骤:以散热片影像的边界线推算基板影像的边界线,并以基板影像的边界线推算基板影像的第二边角位置;一偏移判断步骤:计算散热片影像的第一边角与基板影像的第二边角两点位置的偏差量,并检测是否符合预设值。
申请公布号 CN106548954A 申请公布日期 2017.03.29
申请号 CN201610414924.5 申请日期 2016.06.13
申请人 万润科技股份有限公司 发明人 王国伦;余柏铮;连敏男
分类号 H01L21/66(2006.01)I 主分类号 H01L21/66(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 喻学兵
主权项 一种散热片偏移检测方法,包括:一散热片边角位置取得步骤:搜寻散热片影像的边界线,并以散热片影像的边界线推算散热片影像的第一边角位置;一基板边角位置取得步骤:以散热片影像的边界线推算基板影像的边界线,并以基板影像的边界线推算基板影像的第二边角位置;一偏移判断步骤:计算散热片影像的第一边角与基板影像的第二边角两点位置的偏差量,并检测是否符合预设值。
地址 中国台湾高雄市821路竹区路科十路1号