| 发明名称 | 一种OTP型MCU在未预留测试接口情况下的量产测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种OTP型MCU在未预留测试接口情况下的量产测试方法，该方法在CP1阶段中，在程序区模拟一个测试接口，与量产ATE设备进行通信；同时，在CP1、CP2阶段将校准区的有用信息存储下来到公共网络端，在UV之后的CP3阶段，再将对应的公共网络端的有用信息写入到OTP存储区。本发明通过模拟测试接口实现对待测模块的访问，并与ATE设备进行通信，解决了OTP型MCU因没有测试接口导致无法量产测试的问题，解决OTP型MCU在某个测试接口失效导致无法测试的问题。 | ||
| 申请公布号 | CN106546902A | 申请公布日期 | 2017.03.29 |
| 申请号 | CN201610891953.0 | 申请日期 | 2016.10.13 |
| 申请人 | 芯海科技（深圳）股份有限公司 | 发明人 | 宋恩琳 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
| 代理机构 | 深圳市凯达知识产权事务所 44256 | 代理人 | 刘大弯 |
| 主权项 | 一种OTP型MCU在未预留测试接口情况下的量产测试方法，该方法在CP1阶段中，在程序区模拟一个测试接口，与量产ATE设备进行通信；同时，在CP1、CP2阶段将校准区的有用信息存储下来到公共网络端，在UV之后的CP3阶段，再将对应的公共网络端的有用信息写入到OTP存储区。 | ||
| 地址 | 518067 广东省深圳市南山区南海大道1079号花园城数码大厦A座9层 | ||