发明名称 一种基于PSD的梁二维微力测量装置
摘要 一种基于PSD的梁二维微力测量装置,它属于精密测量的技术领域。它的测量杆的上部外圆面上开有用于与被测游丝卡接的环槽;测量杆的下端与梁中心上面垂直连接,使梁的四根粱的外端头分别与方框形测量杆支架的四个角连接,四块反光镜分别设置在梁的四根梁的下面上;四分半导体激光器设置在基座中心立柱的上端面上,四个二维PSD位置传感器分别设置在基座的四个角上的四根立柱的上端面上;使四分半导体激光器发射的四束激光束分别通过四块反光镜反射后,分别反射到四个二维PSD位置传感器的检测窗口上。本发明利用测量杆和梁进行力到微位移的转换,再利用光杠杆放大原理,采用二维PSD进行位置测量,最终检测到了测量杆处的二维受力。
申请公布号 CN104977101B 申请公布日期 2017.03.29
申请号 CN201510389565.8 申请日期 2015.07.06
申请人 哈尔滨工业大学 发明人 李国;苏星;王波;张鹏;丁飞
分类号 G01L1/00(2006.01)I;G01B11/00(2006.01)I 主分类号 G01L1/00(2006.01)I
代理机构 哈尔滨龙科专利代理有限公司 23206 代理人 高媛
主权项 一种基于PSD的十字梁二维微力测量装置,其特征在于它包括测量杆(1)、方框形测量杆支架(2)、十字梁(3)、四块反光镜(4)、四分半导体激光器(5)、基座(6)、四个二维PSD位置传感器(7);测量杆(1)的上部外圆面上开有用于与被测游丝(8)卡接的环槽(1‑1);测量杆(1)的下端与十字梁(3)中心上端面垂直连接,十字梁(3)设置在方框形测量杆支架(2)的内部,使十字梁(3)的四根粱的外端头分别与方框形测量杆支架(2)的四个角连接,四块反光镜(4)分别设置在十字梁(3)的四根梁的下端面上,四块反光镜(4)的反光面都朝下;四分半导体激光器(5)设置在基座(6)中心立柱的上端面上,四个二维PSD位置传感器(7)分别设置在基座(6)的四个角上的四根立柱的上端面上;方框形测量杆支架(2)设置在基座(6)的正上方上,使四分半导体激光器(5)发射的四束激光束分别通过四块反光镜(4)反射后,分别反射到四个二维PSD位置传感器(7)的检测窗口上,所述十字梁(3)的四根粱的上下方向的刚度约为0.1N/μm。
地址 150000 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号