发明名称 |
用于半导体元件的多沟渠终端结构及其制作方法 |
摘要 |
本发明公开一种用于半导体元件的多沟渠终端结构及其制作方法,该半导体元件包含一半导体基板及一主动结构区,该多沟渠终端结构包含一多沟渠结构,该些沟渠形成于该半导体基板的一露出表面上;一第一掩膜层,形成于该半导体基板的部分表面上,其中该部分表面对应于该半导体元件的一终端结构区;一栅极绝缘层,形成于该多沟渠结构的表面上;一导电层,形成于该栅极绝缘层上,该导电层并凸出于该半导体基板的该露出表面;以及一金属层,形成于该第一掩膜层及该终端结构区的导电层上。 |
申请公布号 |
CN103219395B |
申请公布日期 |
2017.03.29 |
申请号 |
CN201210018436.4 |
申请日期 |
2012.01.20 |
申请人 |
节能元件控股有限公司 |
发明人 |
高隆庆;陈美玲;赵国梁;郭鸿鑫 |
分类号 |
H01L29/872(2006.01)I;H01L21/329(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/872(2006.01)I |
代理机构 |
北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 |
代理人 |
梁挥;常大军 |
主权项 |
一种用于半导体元件的多沟渠终端结构,该半导体元件包含一半导体基板及一主动结构区,其特征在于,该多沟渠终端结构包含:一多沟渠结构,包含多个沟渠,该多个沟渠形成于该半导体基板的一露出表面上;一第一掩膜层,形成于该半导体基板的部分表面上,其中该部分表面对应于该半导体元件的一终端结构区;一栅极绝缘层,形成于该多沟渠结构的表面上;一导电层,形成于该栅极绝缘层上,该导电层并凸出于该半导体基板的该露出表面;一金属层,形成于该第一掩膜层及该终端结构区的导电层上,其中该金属层直接接触到该第一掩膜层及该终端结构区的导电层;以及一钝态保护层,覆盖于该终端结构区的金属层上;其中于该终端结构区中,该导电层上方不具有该第一掩膜层,且该导电层直接接触到该金属层;其中于该主动结构区中不具有该第一掩膜层;其中该钝态保护层并未延伸到该主动结构区。 |
地址 |
中国香港柴湾利众街12号蚬壳工业大厦1楼 |