主权项 |
一种精确测量介电常数的测试系统,其特征在于:包括天线部分、射频电路部分以及数据处理显示部分;所述天线部分包括测试天线和散射体样本;所述射频电路部分包括射频信号源和射频电路,其中射频电路由定向耦合器、低噪声放大器、功分器、混频器以及低通滤波器组成;所述数据处理显示部分由放大电路与ARM开发板组成;测量的具体步骤为:(1)给测试天线施加一个激励,产生辐射场,同时测试天线在端口处具有输入阻抗;随后放入散射体样本,测试天线产生新的辐射场,同时在端口处具有新的输入阻抗,通过辐射场与输入阻抗的变化求出散射体样本的介电常数和损耗,公式如下:<maths num="0001"><math><![CDATA[<mrow><msup><mi>Z</mi><mo>′</mo></msup><mo>-</mo><mi>Z</mi><mo>=</mo><mfrac><mn>1</mn><msup><mi>I</mi><mn>2</mn></msup></mfrac><munder><mo>∫</mo><msub><mi>V</mi><mi>p</mi></msub></munder><mo>{</mo><mo>-</mo><mo>[</mo><msup><mi>σ</mi><mo>′</mo></msup><mo>-</mo><mi>σ</mi><mo>+</mo><mi>j</mi><mi>ω</mi><mrow><mo>(</mo><msup><mi>ϵ</mi><mo>′</mo></msup><mo>-</mo><mi>ϵ</mi><mo>)</mo></mrow><mo>]</mo><msup><mi>E</mi><mo>′</mo></msup><mo>·</mo><mi>E</mi><mo>}</mo><mi>d</mi><mi>V</mi></mrow>]]></math><img file="FDA0001202287420000011.GIF" wi="1844" he="286" /></maths>其中,无样本时测试天线的输入阻抗为Z,测试天线终端的电流为I即为Z的倒数,σ为空气的电导率为0,ε为空气的介电常数即ε<sub>0</sub>为空气介电常数,E为V<sub>P</sub>样本体积内的电场在仿真中提取,ω为天线的角频率,f为天线激励的频率,有样本时测试天线的输入阻抗为Z',σ'为样本的电导率,ε'为要求样本的介电常数ε'=ε<sub>0</sub>ε<sub>r</sub>,E'为V<sub>P</sub>内的电场,可以通过E计算得出,计算出无样本时测试天线的输入阻抗Z和有样本时测试天线的输入阻抗Z';(2)利用电磁场仿真软件进行模拟和仿真,设计出一个贴片微带天线,得到要求的输入阻抗和电场分布,再用Matlab对仿真的数据进行处理验证;(3)按照仿真的贴片微带天线做出实物,用网络分析仪测量中心频点和输入阻抗,验证贴片微带天线实物的正确性;(4)加工好待测的散射体样本,用不同的微波材料加工成不同的形状;(5)将散射体样本放入贴片微带天线的辐射场中,测出此时贴片微带天线的输入阻抗;(6)通过测试系统自动计算出散射体样本的相对介电常数(ε<sub>r</sub>)和损耗角正切(tanδ);(7)改变测试频率,重复以上步骤,对散射体样本进行扫频测试,测量不同频率下的相对介电常数和损耗角正切。 |