发明名称 一种终端的校准综测方法及装置
摘要 本发明实施例公开了一种终端校准综测方法,所述方法包括:向所述测试仪表发送仪表侧校准图样序列,向用户终端UE发送进入校准模式通知消息,所述进入校准模式通知消息中携带有与仪表侧校准图样序列对应的UE侧校准图样序列;接收所述UE反馈的初始小区同步完成消息,并向所述UE发送启动快速校准过程的消息;接收所述校准仪表发送的按照所述仪表侧校准图样序列检测到的所述校准频段的上行功率信息以及所述UE发送的按照所述UE侧校准图样序列检测到的所述校准频段的下行增益信息,处理获得校准结果。
申请公布号 CN106550380A 申请公布日期 2017.03.29
申请号 CN201510612900.6 申请日期 2015.09.23
申请人 深圳市中兴微电子技术有限公司 发明人 水永升
分类号 H04W24/02(2009.01)I 主分类号 H04W24/02(2009.01)I
代理机构 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人 姚开丽;王花丽
主权项 一种终端校准综测方法,其特征在于,所述方法包括:向测试仪表发送仪表侧校准图样序列;向用户终端UE发送进入校准模式通知消息,所述进入校准模式通知消息中携带有与所述仪表侧校准图样序列对应的UE侧校准图样序列;其中,所述仪表侧校准图样序列用于测试仪表获取上行功率信息,所述UE侧校准图样序列用于UE获取下行功率信息;接收所述UE反馈的初始小区同步完成消息,并向所述UE发送启动快速校准过程的消息;接收所述校准仪表发送的所述校准频段的上行功率信息以及所述UE发送的所述校准频段的下行增益信息,处理获得所述上行功率控制字对应的上行功率信息以及所述下行增益控制字对应的下行增益信息。
地址 518085 广东省深圳市盐田区大梅沙1号厂房