一种应用相关型FPGA自动化测试配置方法

摘要

本发明属于FPGA技术领域，提供一种应用相关型FPGA自动化测试配置方法；该方法首先建立应用相关型配置物理坐标模型；然后根据待测FPGA芯片的完整资源和应用电路配置资源，对FPGA芯片的应用电路配置进行切分操作，得到待测资源列表和冗余资源列表；再根据待测资源列表，列出所有待测试路径，根据自动化配置算法在冗余资源中确定每条待测试路径的最优测试路径；直到所有待测资源均配置对应的最优测试路径，为所有最优测试路径添加激励响应回收模块，得到最终测试配置并生成测试覆盖率报告。本发明充分使用冗余资源，在不破坏应用电路配置的基础上仅一次配置完成测试，最大化地提升了测试效率，且测试配置和应用电路配置共存，实现应用相关型FPGA在线测试。

主权项

一种应用相关型FPGA自动化测试配置方法，其特征在于，包括下述步骤：步骤1、根据待测FPGA芯片的开关盒结构，建立FPGA的IR模型：首先对芯片中的金属线进行分类，同一类的金属线统称为一个layer，两条金属线之间只通过开关盒中的PIP建立连接，所有layer构成了点集，PIP的连接关系作为边集，建立IR模型；步骤2、在IR模型的基础上，根据开关盒的物理位置信息，为每个layer添加物理坐标值，将带有物理坐标的IR模型扩展到整个待测FPGA芯片，建立应用相关型配置物理坐标模型；步骤3、根据待测FPGA芯片的完整资源和应用电路配置资源，对FPGA芯片的应用电路配置进行切分操作，得到待测资源列表和冗余资源列表；步骤4、基于步骤3得到的待测资源列表，列出所有待测试路径，根据自动化配置算法在冗余资源中确定每条待测试路径的最优测试路径；步骤5、重复步骤4，直到所有待测资源均配置对应的最优测试路径，为所有最优测试路径添加激励响应回收模块，得到最终测试配置并生成测试覆盖率报告。