发明名称 |
一种电光相位调制器半波电压测量系统及测量方法 |
摘要 |
本发明涉及一种电光相位调制器半波电压测量系统及测量方法,该系统包括顺次连接的激光光源、3dB耦合器、第一偏振控制器、偏振合束器、第三偏振控制器、检偏器、光电探测器、测量电路控制模块以及电压源,第一偏振控制器通过3dB耦合器和偏振合束器还并联有待测相位调制器和第二偏振控制器,电压源连接在待测相位调制器上,该测量方法包括激光光源发出的光信号经检测系统转换为电信号,光电探测器输出的电信号通过测量控制电路控制模块调制完成半波电压的自动测量,并作相关处理,显示测量结果;该发明所设计的一种基于偏振波合成的方法测量电光调制器半波电压的系统和方法,可以快速、自动、准确测量调制器的半波电压。 |
申请公布号 |
CN104020334B |
申请公布日期 |
2017.03.29 |
申请号 |
CN201410231783.4 |
申请日期 |
2014.05.28 |
申请人 |
江苏金迪电子科技有限公司 |
发明人 |
冯振华;付松年;唐明;朱冬宏;田群;周金龙 |
分类号 |
G01R19/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R19/00(2006.01)I |
代理机构 |
南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 |
代理人 |
任立 |
主权项 |
一种电光相位调制器半波电压测量系统,其特征在于:包括顺次连接的激光光源、3dB耦合器、第一偏振控制器、偏振合束器、第三偏振控制器、检偏器、光电探测器、测量电路控制模块以及电压源,所述的第一偏振控制器通过3dB耦合器和偏振合束器还并联有待测相位调制器和第二偏振控制器,所述的待测相位调制器和第二偏振控制器串联,所述的电压源连接在待测相位调制器上给待测相位调制器施加电压,其中:所述3dB耦合器将激光光源发出的光分成两路光信号并从3dB耦合器的输出端发出,其中一路光信号与所述待测相位调制器的输入端相连,所述待测相位调制器对光波进行相位调制并输出信号至连接在待测相位调制器输出端的第二偏振控制器中,所述的第二偏振控制器将经待测相位调制器调制后的光信号传送至偏振合束器的输入端;另一路光信号直接经过第一偏振控制器后输入到所述偏振合束器的另一个输入端口中,所述偏振合束器将两路光信号进行偏振合波,合波后的信号经过第三偏振控制器进行偏振旋转后送入检偏器,检偏后的光信号经过光电探测器后完成光电转换得到电信号;所述的测量电路控制模块将光电探测器与电压源连接起来,通过接收光电探测器输出的数据控制电压源的电压变动完成调制器半波电压的自动测量。 |
地址 |
212215 江苏省镇江市扬中市经济开发区港隆路558号 |