一种低功耗扫描自测试电路以及自测试方法

摘要

本发明提供了一种低功耗扫描自测试电路，所述自测试电路包括相移器、线性反馈移位寄存器、多输入特征分析寄存器，其特征在于，所述扫描自测试电路还包括扫描森林结构，所述扫描森林结构包括与相移器连接的多棵扫描树，其中每棵扫描树包括多个扫描链，所有所述扫描链连接于同一时钟信号的输入端，使同一扫描树的所有扫描链被同一个时钟信号驱动；每一个测试使能信号的输入端连接所有所述扫描链，使不同的权值分配到所有扫描链中；所述的每棵扫描树的多个扫描链中，每一个扫描链的每一对触发器在电路中没有共同通达的节点，扫描链与扫描链之间距离相近的触发器相连接；所述线性移位反馈寄存器包括用于保存所有确定性测试向量的寄存位。

主权项

一种低功耗扫描自测试电路，所述自测试电路包括相移器、线性反馈移位寄存器、多输入特征分析寄存器，其特征在于，所述扫描自测试电路还包括扫描森林结构，所述扫描森林结构包括与相移器连接的多棵扫描树，其中每棵扫描树包括多个扫描链，所有所述扫描链连接于同一时钟信号的输入端，使同一扫描树的所有扫描链被同一个时钟信号驱动；每一个测试使能信号的输入端连接所有所述扫描链，使不同的权值分配到所有扫描链中；所述的每棵扫描树的多个扫描链中，每一个扫描链的每一对触发器在电路中没有共同通达的节点，扫描链与扫描链之间距离相近的触发器相连接；所述线性反馈移位寄存器包括用于保存所有确定性测试向量的隐蔽寄存位。