| 摘要 |
【課題】機器設計の著しい複雑化を要求することなく、干渉の低減を達成する。【解決手段】元素質量分析計は、質量フィルタを使用して、イオン源から受容されたイオンからイオンを選択し透過させる。反応セルまたは衝突セルが、透過したイオンを受容しガスと反応または衝突させて、生成物イオンを提供する。質量分析部が、この生成物イオンを受容し、分析し、イオンの検出に基づいて少なくとも１つの出力を提供する。本元素質量分析計は、所望の質量対電荷比（Ｍ）を含む質量対電荷比の第１の分析範囲内にあるイオンを測定する質量分析部からの第１の出力を提供し、所望の質量対電荷比より少なくとも０．９５原子質量単位分低い質量対電荷比（Ｍ−ｉ）（ｉは、０．９５以上）を含む質量対電荷比の第２の分析範囲内にあるイオンを測定する質量分析部からの第２の出力を提供し、第２の出力に基づいて第１の出力を補正する。【選択図】図１ |
