发明名称 物体の幾何学的特徴を測定するシステム及び方法
摘要 【課題】物体の幾何学的特徴を測定する。【解決手段】システムは、発光ユニットと前ミラーと後ミラーと撮像ユニットとプロセッサとを含む。発光ユニットは、コリメート済みの光ビームを放出するように構成される。前ミラーは、コリメート済みの光ビームの一部を反射して、構造化光の前集束化リングを生成し、構造化光の前集束化リングを物体に投影し、それにより、光の前反射リングを得るように構成され、また、コリメート済みの光ビームの一部が通過することを可能にするように構成される。後ミラーは、前ミラーの光伝送経路の下流に配置される。後ミラーは、前ミラーを通過するコリメート済みの光ビームの少なくとも一部を反射して、構造化光の後集束化リングを生成し、構造化光の後集束化リングを物体に投影し、それにより、光の後反射リングを得るように構成される。【選択図】図1
申请公布号 JP2017058261(A) 申请公布日期 2017.03.23
申请号 JP20150183536 申请日期 2015.09.17
申请人 ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ 发明人 シュー・ハン;グァンピン・シェ;ケビン・ジョージ・ハーディング;ジョン・ブランドン・ラフレン
分类号 G01B11/25;G01B11/24 主分类号 G01B11/25
代理机构 代理人
主权项
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