| 摘要 |
【課題】半導体素子や電子部品の個数に影響されることなく半導体電力変換装置における異常・故障の発生を検知することができ、尚且つ、異常・故障の発生の検知と同時に当該異常・故障の発生部位を特定することができるようにする。【解決手段】監視対象の半導体電力変換装置から発生する音が複数の音検知部によって採取されて音データが取得され（Ｓ１）、当該音データが所定の音圧レベル以上である場合に音検知部のそれぞれにおける音の採取に関する計測時間と共に音データが記録され（Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４）、これら音データの中から二個が選択され組み合わされて作成される音データの対毎に計測時間の時間差が算出されると共に当該時間差に音速が掛け合わされて距離差に換算され、前記音データの対毎の距離差に基づいて音が発生した部位が特定される（Ｓ５）ようにした。【選択図】図１ |
