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Die Erfindung erzielt eine reduzierte Menge von Anschlüssen zum Steuern eines Testmodus, einer Testfunktion und von Testergebnissen einer gegebenen Norm für mindestens einen „Wrapped Core“ 40, 100 (einen von einem Wrapper-Boundary-Register 40 als „Wrapper-Kette“ umgebenen Core 100). Auch die Testflexibilität und die Geschwindigkeit des Testens des Cores 100 werden verbessert. Das vorgeschlagene serielle Test-Interface enthält eine Zustandsmaschine 210 und ein Anweisungsregister 213 für über einen einzelnen physischen Dateneingangsanschluss 1a gelieferte Wrapper-Anweisungen. Die Zustandsmaschine 210 liest vom Anweisungsregister 213 festgehaltene Wrapper-Anweisungen und erzeugt On-Chip-Wrapper-Steuersignale 30 der gegebenen Norm für das Wrapper-Boundary-Register 40 des Cores 100. Mindestens eine aus dem Anweisungsregister 213 gelesene Wrapper-Anweisung liefert mindestens ein Wrapper-Steuersignal 30. Der einzelne Eingangsanschluss 1a liefert außerdem ein Eingangs-Testsignal SDI zum Koppeln mit dem Wrapper-Boundary-Register 40 als logisches On-Chip-Eingangs-Testsignal WSI. Ein einzelner Ausgangsanschluss 1b gibt ein Ausgangs-Testsignal SDO aus einem Ausgang WSO des Wrapper-Boundary-Registers 40 zurück. Die Erfindung kann IEEE-1500-Steuersignale betreffen. |
