| 摘要 |
【課題】計測対象物のあらゆる位置においてひずみおよび変位を計測することができる変位計測方法および変位計測装置を提供する。【解決手段】変位計測方法は、環構造体１０の周囲に配置された光ファイバ２０ａおよび２０ｂから、環構造体１０のひずみに基づく散乱光のブリルアンゲインスペクトルを観測するスペクトル観測ステップと、ひずみの観測モデルを構築し、観測したブリルアンゲインスペクトルと観測モデルを用いてひずみを計測するひずみ計測ステップとを含み、観測モデルにおいて、ひずみをフーリエ級数で与える。【選択図】図１ |
