| 摘要 |
【課題】測定ポイントを減らすことにより、ＤＦＥのタップ係数を最適化する時間を短縮する。【解決手段】先ず、タップ係数を決定するタップを選択する。次に、選択されたタップについて、タップ係数を設定する。次に、テストパターンを用いたデータ受信を行うことにより得られるアイ開口を用いて、予め設定された測定範囲でのエラーカウントの合計値を取得する。次に、選択されたタップの全てのタップ係数についてエラーカウントの合計値を取得したか否かを判定し、取得していない場合は再びタップ係数を設定する過程を行い、取得している場合はエラーカウントの合計値が最小のタップ係数を最適値として決定する。次に、全てのタップでの最適値の設定が終了しているか否かを判定する。エラーカウント条件抽出過程では、測定範囲の中心を初期値からずらしてエラーカウントの合計値が改善するか否かを判定し、改善する場合は、改善したときの中心を新たに初期値に設定する。【選択図】図５ |
