发明名称 評価方法及び装置、そのプログラム、露光方法及び装置、並びにデバイス製造方法
摘要 【課題】光学系の光学特性を評価するためのパターンを効率的に選択する。【解決手段】光学系のOPE特性の評価方法であって、複数のテストパターンを用いてその光学系が第1の状態のときのそれらのテストパターンのCD(critical dimension)値を求めるステップ102,112と、それらのテストパターンを用いてその光学系が第2〜第4の状態に変化したときのそれらのテストパターンのCD値を求めるステップ106,112と、その第1の状態でのCD値からその第2〜第4の状態でのCD値への変動量の間の距離を求め、この距離に基づいてそれらのテストパターンからOPE特性を評価するために使用するn個の評価用パターンを選択するステップ116,122,124とを有する。【選択図】図4
申请公布号 JP2017058435(A) 申请公布日期 2017.03.23
申请号 JP20150181557 申请日期 2015.09.15
申请人 株式会社ニコン 发明人 藤井 光一
分类号 G03F7/20 主分类号 G03F7/20
代理机构 代理人
主权项
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