发明名称 Spannungsanalysevorrichtung, Verfahren und Programm
摘要 Es wird bereitgestellt eine Spannungsanalysevorrichtung, welche zum Verbessern der Genauigkeit eines Spannungswerts geeignet ist, ein Verfahren und ein Programm. Eine Spannungsanalysevorrichtung 100, welche eine Eigenspannung einer Probe S berechnet, umfasst eine Analyseeinheit, ausgebildet zum Berechnen eines Fehlers als eine von Lösungen durch Verwenden einer Gleichung, welche einen Fehlerterm umfasst und eine Beziehung zwischen einer Spannung und einer Dehnung vorschreibt, mit mittels gebeugten Röntgenstrahlen bezüglich einer Vielzahl von Beugungsvektoren gemessenen Werten und eines vorläufigen Wertes, wenn die Spannung in der Richtung senkrecht zu der Oberfläche der Probe S konstant ist, und eine Berechnungseinheit eines vorläufigen Wertes, ausgebildet zum Korrigieren des vorläufigen Wertes durch den berechneten Fehler, und die Analyseeinheit und die Korrektureinheit die Berechnung des Fehlers und die Korrektur des vorläufigen Wertes wiederholen.
申请公布号 DE102016217752(A1) 申请公布日期 2017.03.23
申请号 DE201610217752 申请日期 2016.09.16
申请人 RIGAKU CORPORATION 发明人 Yasukawa, Shoichi
分类号 G01B15/08;G01N23/20 主分类号 G01B15/08
代理机构 代理人
主权项
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