Eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Vorhersagen eines zukünftigen Zustandes einer elektronischen Komponente

摘要

Eine Vorrichtung zum Vorhersagen eines zukünftigen Zustandes einer elektronischen Komponente ist bereitgestellt. Die Vorrichtung umfasst eine Messeinheit, die ausgebildet ist zum Messen einer Wellenform eines Signals bezogen auf die elektronische Komponente. Ferner umfasst die Vorrichtung eine Verarbeitungseinheit, die ausgebildet ist zum Berechnen eines vorhergesagten Wertes einer Charakteristik der elektronischen Komponente basierend auf einem Zuverlässigkeitsmodell der elektronischen Komponente unter Verwendung der Wellenform des Signals.