发明名称 粒子線照射装置
摘要 照射対象の全照射位置に粒子線を照射する照射を、リスキャン回数繰り返して粒子線をそれぞれの照射位置にリスキャン回数照射するように走査装置を制御する粒子線照射装置において、リスキャン回数nまたは粒子線の単位時間当たりの線量であるビーム強度Jの一方を入力して、全ての照射位置について下記条件P1を満足する他方の値のうち最大の値を求めて、ユーザーに提示する演算部を備えたことを特徴とする粒子線照射装置。J*ti<=di/n (条件P1)
申请公布号 JPWO2015104828(A1) 申请公布日期 2017.03.23
申请号 JP20150556685 申请日期 2014.01.10
申请人 三菱電機株式会社 发明人 坂本 裕介;蒲 越虎;原田 久;本田 泰三
分类号 A61N5/10 主分类号 A61N5/10
代理机构 代理人
主权项
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