发明名称 半导体装置
摘要 实施方式的半导体装置包含第1及第2构造体、阶差、第1及第2支柱、以及第1及第2接触部。第1构造体包含第1电极层及第1绝缘体。第1构造体具有第1阶面。第2构造体在第1构造体上,设置在除第1阶面上以外的部分。第2构造体包含第2电极层及第2绝缘体。第2构造体具有第2阶面。阶差设置在第1阶面与第2阶面之间。第1支柱经由第1阶面而到达至衬底。第2支柱经由第2阶面而到达至衬底。第2支柱经由阶差与第1支柱相邻。第1接触部经由第1阶面而与第1电极层电连接。第1接触部处于阶差与第1支柱之间。阶差处于第1接触部与第2支柱之间。
申请公布号 CN106531743A 申请公布日期 2017.03.22
申请号 CN201610585573.4 申请日期 2016.07.22
申请人 株式会社东芝 发明人 曾根原岳志;鬼头杰
分类号 H01L27/11578(2017.01)I 主分类号 H01L27/11578(2017.01)I
代理机构 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人 张世俊
主权项 一种半导体装置,其特征在于包括:衬底;第1构造体,设置在所述衬底上,所述第1构造体包含第1电极层及第1绝缘体,所述第1构造体在所述第1绝缘体的表面具有第1阶面;第2构造体,在所述第1构造体上,设置在除所述第1阶面上以外的部分,所述第2构造体包含第2电极层及第2绝缘体,所述第2构造体在所述第2绝缘体的表面具有第2阶面;阶差,设置在所述第1阶面与所述第2阶面之间;绝缘层,设置在所述第1阶面及所述第2阶面上;第1支柱,设置在所述绝缘层及所述第1构造体内,所述第1支柱经由所述第1阶面而到达至所述衬底;第2支柱,设置在所述绝缘层、所述第2构造体、及所述第1构造体内,所述第2支柱经由所述第2阶面而到达至所述衬底,所述第2支柱经由所述阶差而与所述第1支柱相邻;第1接触部,设置在所述绝缘层及所述第1绝缘体内,所述第1接触部经由所述第1阶面而与所述第1电极层电连接;及第2接触部,设置在所述绝缘层及所述第2绝缘体内,所述第2接触部经由所述第2阶面而与所述第2电极层电连接;且所述第1接触部处于所述阶差与所述第1支柱之间,所述阶差处于所述第1接触部与所述第2支柱之间。
地址 日本东京