| 发明名称 | 用于检测来自样本的光致发光的检测器 | ||
| 摘要 | 本实用新型涉及一种用于检测样本的光致发光的检测器，包括被配置为接收光致发光的光敏检测器阵列，被提供有第一类型的线性偏振滤光器的至少一个光敏检测器，被提供有第二类型的线性偏振滤光器的至少一个光敏检测器，其中所述第一类型的线性偏振滤光器具有与所述第二类型的线性偏振滤光器的偏振平面成一定角度的偏振平面。 | ||
| 申请公布号 | CN206038534U | 申请公布日期 | 2017.03.22 |
| 申请号 | CN201620366150.9 | 申请日期 | 2016.04.27 |
| 申请人 | 意法半导体(R&D)有限公司 | 发明人 | F·马蒂奥利德拉罗卡;J·K·莫雷 |
| 分类号 | G01N21/64(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/64(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人 | 王茂华 |
| 主权项 | 一种用于检测来自样本的光致发光的检测器，其特征在于，所述检测器包括：光敏检测器阵列，被配置为接收光致发光，至少一个光敏检测器被提供有第一类型的线性偏振滤光器，并且至少一个光敏检测器被提供有第二类型的线性偏振滤光器，其中所述第一类型的线性偏振滤光器具有与所述第二类型的线性偏振滤光器的偏振平面成一定角度的偏振平面。 | ||
| 地址 | 英国白金汉郡 | ||