发明名称 金属板实际复杂缺陷磁声阵列导波散射成像方法
摘要 本发明提出一种金属板实际复杂缺陷磁声阵列导波散射成像方法,包括:采用可控发射方向EMAT作为激励换能器,采用全向EMAT作为接收换能器;每个可控发射方向EMAT都按预设的发射角度范围和角度步长激发导波,全向接收EMAT在每次有导波激发时都接收导波信号;利用导波信号走时筛选出构成散射组的发射EMAT和接收EMAT;根据散射组间距、发射角度和导波信号走时求解散射点位置和散射边方向;将得到的所有散射点按照各自的散射边方向进行曲线拟合,形成实际复杂缺陷的清晰轮廓图像。本发明能够对金属板的实际复杂缺陷进行高精度成像,对散射点位置和散射边方向的求解准确、运算速度快,对实际复杂缺陷的成像效率高。
申请公布号 CN106525975A 申请公布日期 2017.03.22
申请号 CN201610952378.0 申请日期 2016.11.02
申请人 清华大学 发明人 黄松岭;赵伟;张宇;王珅
分类号 G01N29/06(2006.01)I 主分类号 G01N29/06(2006.01)I
代理机构 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人 张大威
主权项 一种金属板实际复杂缺陷磁声阵列导波散射成像方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:选取N个可控发射方向EMAT作为激励换能器,选取M个全向接收EMAT作为接收换能器,其中,N、M为正整数,可控发射方向EMAT的发射角度范围为θ<sub>1</sub>~θ<sub>2</sub>,角度步长为θ<sub>s</sub>,发射角度总数目为L=(θ<sub>2</sub>‑θ<sub>1</sub>)/θ<sub>s</sub>+1;S2:选择第n个可控发射方向EMAT作为本次检测的激励换能器T<sub>n</sub>,其中,n=1,2,…,N;S3:获取所述第n个可控发射方向EMAT的发射角度θ<sub>l</sub>,并将所述第n个可控发射方向EMAT沿所述发射角度θ<sub>l</sub>在待测金属板中激发超声导波,其中,l=1,2,…,L;S4:从M个全向接收EMAT中选取所有接收到金属板中的超声导波信号的M1个全向接收EMAT,表示为R<sub>m1</sub>,其中,m1=1,2,…,M1,逐个判断R<sub>m1</sub>与所述第n个可控发射方向EMAT是否构成散射组(T<sub>n</sub>,R<sub>m1</sub>),如果是,则执行步骤S5,否则,执行步骤S7;S5:对于所述散射组(T<sub>n</sub>,R<sub>m1</sub>),根据T<sub>n</sub>和R<sub>m1</sub>的间距、发射角度和接收到导波信号的走时求解散射点的位置P;S6:根据所述散射点的位置P和散射组(T<sub>n</sub>,R<sub>m1</sub>)的位置,确定导波传播和散射路径,并求解散射边方向;S7:判断是否已经沿所有的发射角度θ<sub>l</sub>都进行了导波激发和接收,如果是,则执行步骤S8,否则,发射角度变为θ<sub>l+1</sub>,并返回所述步骤S3;S8:判断是否所有的可控发射方向EMAT都已进行了超声导波的激发,如果是,则执行步骤S9,否则,将可控发射方向EMAT变为T<sub>n+1</sub>,并返回所述步骤S2;S9:将得到的所有散射点按照各自的散射边方向进行曲线拟合,得到实际复杂缺陷的清晰轮廓图像。
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