发明名称 一种基于稳态法测量粉末导热系数的装置
摘要 本发明公开一种基于稳态法测量粉末导热系数的装置,该装置包括真空室和恒温系统;真空室包括真空室筒体、真空室上法兰和抽真空管;真空室筒体内包括加热球、PT100铂电阻温度计、样品测试仓和传热支撑架;所述真空室筒体和与真空室上法兰连接固定;所述传热支撑架的下表面与真空室筒体的底面连接固定;传热支撑架上设有凹槽,该凹槽与样品测试仓匹配固定;所述样品测试仓内设置加热球;样品测试仓和加热球的外表面上分别设置PT100铂电阻温度计。本发明的装置所用粉末样品较少;可免去液氮蒸发量的测量,使导热系数测量准确度更高;且可用于宽温区导热系数的测量。
申请公布号 CN106525899A 申请公布日期 2017.03.22
申请号 CN201611225341.4 申请日期 2016.12.27
申请人 中国科学院理化技术研究所 发明人 严开祺;王平;张敬杰
分类号 G01N25/20(2006.01)I 主分类号 G01N25/20(2006.01)I
代理机构 北京正理专利代理有限公司 11257 代理人 张文祎;赵晓丹
主权项 一种基于稳态法测量粉末导热系数的装置,其特征在于,该装置包括真空室(7)和恒温系统(11);所述恒温系统(11)内设置真空室(7);所述真空室(7)包括真空室筒体(8)、真空室上法兰(9)和抽真空管(10);所述真空室筒体(8)内包括加热球(1)、PT100铂电阻温度计(2)、样品测试仓(5)和传热支撑架(6);所述真空室筒体(8)和与真空室上法兰(9)连接固定;所述抽真空管(10)穿过真空室上法兰(9)与真空室筒体(8)连通;所述传热支撑架(6)的下表面与真空室筒体(8)的底面连接固定;传热支撑架(6)上设有凹槽,该凹槽与样品测试仓(5)匹配固定;所述样品测试仓(5)内设置加热球(1),该加热球(1)与样品测试仓(5)处于同一中心;样品测试仓(5)和加热球(1)的外表面上分别设置PT100铂电阻温度计(2);所述样品测试仓(5)和加热球(1)之间形成样品测试区(4)。
地址 100190 北京市海淀区中关村东路29号