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一种数字电路系统的测试方法，其特征在于，所述数字电路系统包括：AD模块，用以采样模拟信号形成数字信号；FPGA模块，连接所述AD模块，用以处理所述数字信号；DA模块，连接所述FPGA模块，用以将处理过的数字信号转成模拟信号输出；锁相环模块，用以为数字电路系统提供同源时钟；DDS模块，连接所述FPGA模块，用以在FPGA模块的控制下输出特定频率信号；该测试方法包括加电前测试阶段和加电后测试阶段；所述加电前测试阶段包括电源接口阻抗测试步骤，测试电源接口的电阻值，以保证系统内部电源连接无短路；所述加电后测试阶段包括：电压正确性测试步骤，测试系统中连接的电源模块加载到数字电路系统中的电压值，以确认系统加电后电压的正确性；锁相环模块时钟测试步骤，测试锁相环模块的锁定指示管脚的电压值，探测获得锁相环模块的鉴相输出管脚的鉴相波形，测试锁相环模块输出的时钟信号是否满足系统设计要求；DDS准确度与同源稳定度测试步骤，测试DDS模块输出的一组单频信号的频率平均值是否符合设定值，测试DDS模块输出频率和高稳定度晶振的输出频率的阿伦方差，测试DDS是否能够输出调频信号，以保证DDS模块输出信号的准确性与稳定性；AD/DA通路性能测试步骤，测试空置AD模块输入端时的输出端的值、以确定AD噪声值，测试AD模块通路、以保证AD模块能够将输入端的模拟信号转换为数字信号，测试DA模块能够输出的最大值与最小值、以确定DA输出能力，测试DA模块输出定值时采样数据的均方差、以确定DA定值噪声，测试DA模块输出台阶电压时每阶电压值的均方差、以确定DA输出均匀度。 |
