发明名称 植入式电刺激器导线系统的疲劳寿命测试装置
摘要 本发明涉及一种疲劳寿命测试装置,包括弯曲测试夹具,用于夹持待测试样件,并对待测试样件进行弯曲,其中,所述疲劳寿命测试装置进一步包括偏置补偿装置,所述偏置补偿装置用于对待测试样件中夹持于弯曲测试夹具中的夹紧端、张紧端的位移轨迹进行补偿,使所述待测试样件在弯曲过程中,所述待测试样件所受拉力恒定。本发明提供的疲劳寿命测试装置,通过偏置补偿装置对待测试样件的水平位移及竖直位移进行补偿,能够减少或避免了杂散载荷的引入,提高了对疲劳寿命测试的准确度。
申请公布号 CN106526368A 申请公布日期 2017.03.22
申请号 CN201610949772.9 申请日期 2016.10.26
申请人 清华大学 发明人 姜长青;李霖泽;李路明
分类号 G01R31/00(2006.01)I;G01N3/38(2006.01)I;G01N3/02(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 代理人 贾满意
主权项 一种疲劳寿命测试装置,包括弯曲测试夹具,用于夹持待测试样件,并对待测试样件进行弯曲,其特征在于,所述疲劳寿命测试装置进一步包括偏置补偿装置,所述偏置补偿装置用于对待测试样件中夹持于弯曲测试夹具中的夹紧端和/或张紧端的位移轨迹进行补偿,使所述待测试样件在弯曲过程中,所述待测试样件所受拉力恒定。
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