发明名称 承载装置及反应腔室
摘要 本发明提供了一种承载装置及反应腔室。本发明提供的承载装置其包括托盘和盖板,托盘上设置有承载基片的凸台,盖板包括板体,板体上设置有与凸台一一对应且套置在凸台侧壁外侧的通孔,沿每个通孔周向上间隔设置的多个压爪,每个压爪用于叠压在基片的边缘区域,以将基片固定在凸台上;板体的上表面高于基片的上表面,每个通孔的内壁和对应的凸台的侧壁之间设置有预设间隙,且凸台的直径不小于基片的直径。本发明提供的承载装置及反应腔室,可以改善基片的刻蚀均匀性,可以降低主刻蚀步骤完成之后产生的拐角的最高高度,这样,就可以缩短过刻蚀步骤的工艺时间来消除该拐角,从而可以提高产量。
申请公布号 CN106531679A 申请公布日期 2017.03.22
申请号 CN201510577483.6 申请日期 2015.09.10
申请人 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 发明人 吴鑫
分类号 H01L21/687(2006.01)I;H01L21/67(2006.01)I 主分类号 H01L21/687(2006.01)I
代理机构 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人 彭瑞欣;张天舒
主权项 一种承载装置,其包括托盘和盖板,所述托盘上设置有承载基片的凸台,所述盖板包括板体,所述板体上设置有与凸台对应且套置在所述凸台侧壁外侧的通孔,沿所述通孔周向上间隔设置的多个压爪,每个所述压爪用于叠压在所述基片的边缘区域,以将基片固定在所述凸台上;其特征在于,所述板体的上表面高于所述基片的上表面,所述通孔的内壁和对应的所述凸台的侧壁之间设置有预设间隙,且所述凸台的直径不小于所述基片的直径。
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