发明名称 |
一种基于孔喉结构的致密砂岩克氏渗透率的校正方法 |
摘要 |
本发明提供了一种基于孔喉结构的致密砂岩克氏渗透率的校正方法。该方法包括:制备岩心;选取不同压力点对岩心气测渗透率;根据岩心的气测渗透率得到岩心的克氏渗透率;对岩心进行高压压汞实验,得到岩心的排驱压力、饱和度中值压力、饱和度中值半径、孔喉半径平均值、最大进汞饱和度;根据高压压汞实验得到的实验参数对孔喉结构进行分类;对每一类的孔喉结构的岩心,进行气测渗透率与克氏渗透率的线性拟合,得到拟合参数,并将拟合参数的结果与平均孔隙压力进行指数拟合,得到克氏渗透率与平均孔隙压力和气测渗透率的函数关系式,完成基于孔喉结构的致密砂岩克氏渗透率的校正。 |
申请公布号 |
CN106525684A |
申请公布日期 |
2017.03.22 |
申请号 |
CN201610961286.9 |
申请日期 |
2016.10.27 |
申请人 |
中国石油大学(北京) |
发明人 |
刘广峰;白耀星;顾岱鸿;何顺利;王文举;潘少杰;朱贤峰;刘宗科;李雪娇;何浩铎;于皓;赵文海;刘畅 |
分类号 |
G01N15/08(2006.01)I |
主分类号 |
G01N15/08(2006.01)I |
代理机构 |
北京三友知识产权代理有限公司 11127 |
代理人 |
姚亮;沈金辉 |
主权项 |
一种基于孔喉结构的致密砂岩克氏渗透率的校正方法,其特征在于,该校正方法包括以下步骤:制备岩心;选取不同压力点对岩心气测渗透率;根据岩心的气测渗透率得到岩心的克氏渗透率;对岩心进行高压压汞实验,得到岩心的排驱压力、饱和度中值压力、饱和度中值半径、孔喉半径平均值、最大进汞饱和度;根据高压压汞实验得到的实验参数对孔喉结构进行分类;在每一平均孔隙压力下,对每一类孔喉结构的岩心进行气测渗透率与克氏渗透率的线性拟合,得到拟合参数,并将不同平均孔隙压力下的拟合参数结果与平均孔隙压力进行指数函数拟合,得到克氏渗透率与平均孔隙压力和气测渗透率的函数关系式,完成基于孔喉结构的致密砂岩克氏渗透率的校正。 |
地址 |
102249 北京市昌平区府学路18号 |