一种触摸屏的像素点电容值检测范围的获取方法和装置

摘要

本发明公开了一种触摸屏的像素点电容值检测范围的获取方法和装置，该方法包括：获取N片触摸屏的每一个像素点的电容值，其中每一片触摸屏具有M个像素点，M为大于0的整数，N为正整数；计算N片触摸屏上相同的第i个位置的像素点的电容值均值和方差，以获取第i个位置的像素点电容值参考范围，其中i＝1，2，…，M‑1，M；判断N片触摸屏上的N*M个像素点的电容值是否在其对应位置的像素点电容值参考范围内；当判定任意1片触摸屏上的任意1个像素点的电容值均在其对应位置的像素点电容值参考范围内，设置第i个位置的像素点电容值参考范围作为对应位置的像素点电容值检测范围。本发明解决了现有技术中电容值检测存在的漏判、过判问题。

主权项

一种触摸屏的像素点电容值检测范围的获取方法，其特征在于，包括：步骤一、获取N片所述触摸屏的每一个像素点的电容值，其中，每一片所述触摸屏具有M个所述像素点，M为大于0的整数，N为正整数；步骤二、计算N片所述触摸屏上相同的第i个位置的所述像素点的电容值均值和方差，按照如下公式计算第i个位置的像素点电容值参考范围，LimitD_i＝μ_i‑cpk*3*δ_iLimitU_i＝μ_i+cpk*3*δ_i其中，limitD_i为所述第i个位置的像素点电容值参考范围的下限，limitU_i为所述第i个位置的像素点电容值参考范围的上限，μ_i为所述第i个位置像素点的电容值均值，δ_i为所述第i个位置像素点的电容值方差，cpk为制程能力参数，i＝1，2，…，M‑1，M；步骤三、判断N片所述触摸屏上的N*M个所述像素点的电容值是否在其对应位置的像素点电容值参考范围内；步骤四、当判定任意1片所述触摸屏上的任意1个所述像素点的电容值均在其对应位置的所述像素点电容值参考范围内，设置所述第i个位置的像素点电容值参考范围作为对应位置的像素点电容值检测范围。