发明名称 |
一种用于电容薄膜的褶皱识别方法及装置 |
摘要 |
本发明公开了一种用于电容薄膜的褶皱识别方法及装置,主要包括蜂窝准直弱光监测模块、自适应调焦模块、图像处理模块。自适应调焦模块配合蜂窝准直光源实现薄膜弱光检测,基于图像处理模块,合理识别薄膜质量及卷制缺陷。本发明获取在线图像,通过图像处理方法,实时监测薄膜褶皱形成,褶皱的位置及大小,及时标记产品缺陷,解决人工巡检问题的同时也填补了国内外智能化监控薄膜卷制的空白。 |
申请公布号 |
CN106529510A |
申请公布日期 |
2017.03.22 |
申请号 |
CN201611136755.X |
申请日期 |
2016.12.12 |
申请人 |
中国科学院合肥物质科学研究院;皖江新兴产业技术发展中心 |
发明人 |
刘勇;邓国庆;张龙;夏营威;张文;王依人;戴庞达 |
分类号 |
G06K9/00(2006.01)I;G06K9/32(2006.01)I;G06K9/34(2006.01)I;G06K9/46(2006.01)I |
主分类号 |
G06K9/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 |
代理人 |
杨学明;顾炜 |
主权项 |
一种用于电容薄膜的褶皱识别装置,其特征在于:包括蜂窝准直弱光监测模块、自适应调焦模块和图像处理模块,自适应调焦模块配合蜂窝准直光源实现薄膜弱光检测,基于图像处理模块,合理识别薄膜质量及卷制缺陷;所述蜂窝准直弱光监测模块,包括蜂窝准直弱光光源和CCD感光元件,光源发射均匀覆盖监测区域的偏正光,使得CCD感光元件能够采集清晰的电容薄膜图像,CCD感光元件具有全局曝光性能,通过扫描完成不同长度薄膜的采样;所述自适应调焦模块,用于实现自适应调焦功能,使得CCD可以采集不同时段的清晰图像,所述的自适应调焦模块包括用于自适应调焦成像模块在X向和Y向运动的导向调节机构以及激光测距仪;所述图像处理模块,通过以太网将薄膜图像输送至计算平台,经图像处理后,准确识别折痕类型、长度、位置、宽度特征,用于定量分析、记录折痕信息。 |
地址 |
230031 安徽省合肥市蜀山湖路350号 |