发明名称 |
一种软X射线源辐射强度标定系统和标定方法 |
摘要 |
本发明涉及一种软X射线源辐射强度标定系统和标定方法,包括辐射源真空腔、实验真空腔、X射线传输腔、X射线源、软X射线CCD探测器;本发明采用单光子计数技术,标定软X射线辐射强度,尤其是可以标定能量在2keV以下的X射线源的辐射强度,打破了单光子计数X射线CCD的能量限制。 |
申请公布号 |
CN106526649A |
申请公布日期 |
2017.03.22 |
申请号 |
CN201610862775.9 |
申请日期 |
2016.09.28 |
申请人 |
北京空间机电研究所 |
发明人 |
苏鲁宁;刘勋;李维;苏云;郭崇玲;阮宁娟 |
分类号 |
G01T1/16(2006.01)I |
主分类号 |
G01T1/16(2006.01)I |
代理机构 |
中国航天科技专利中心 11009 |
代理人 |
安丽 |
主权项 |
一种软X射线源辐射强度标定系统,其特征在于:包括辐射源真空腔、实验真空腔、X射线传输腔、X射线源、软X射线CCD探测器;所述辐射源真空腔内产生X射线,经过X射线传输腔内长距离传输后实现CCD单位像元、单位时间内接收到的X射线光子数小于1,作为软X射线源辐射强度标定的X射线源和标定系统。 |
地址 |
100076 北京市丰台区南大红门路1号9201信箱5分箱 |