发明名称 一种金线键合工艺优化方法
摘要 本发明涉及一种金线键合工艺优化方法,包括以下步骤:S1,选取影响金线键合强度的关键因素;S2,为关键因素均选取水平参数;S3,对水平参数进行数字处理,设计正交试验组,用拉力测试结果检验试验结果;S4,将步骤S3中正交试验的结果进行数学分析;S5,建立预测模型,预测金线键合工艺参数对键合质量的影响;S6,获得工艺窗口,达到工艺参数优化效果。采用本发明的金线工艺优化方法,成本和工作量控制适中,有利于比较各参数对工艺质量的影响优先级,获得准确度高的预测模型,得到工艺参数窗口,达到工艺优化目的。
申请公布号 CN106529034A 申请公布日期 2017.03.22
申请号 CN201610987515.4 申请日期 2016.11.09
申请人 重庆邮电大学 发明人 邓纵横;王兴龙;胡章芳
分类号 G06F17/50(2006.01)I 主分类号 G06F17/50(2006.01)I
代理机构 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 代理人 廖曦
主权项 一种金线键合工艺优化方法,其特征在于:包括以下步骤:S1,选取影响金线键合强度的关键因素;S2,为关键因素均选取水平参数;S3,对水平参数进行数字处理,设计正交试验组,用拉力测试结果检验试验结果;S4,将步骤S3中正交试验的结果进行数学分析;S5,建立预测模型,预测金线键合工艺参数对键合质量的影响;S6,获得工艺窗口,达到工艺参数优化效果。
地址 400065 重庆市南岸区黄桷垭崇文路2号