发明名称 |
一种定子叠片的平整度检测方法 |
摘要 |
本发明公开了一种定子叠片的平整度检测方法,包括下述步骤:通过包括热处理的制造工序准备出包括多个定子叠片批次;从定子叠片批次中抽出至少一个定子叠片作为检测用叠片;通过分析方法1对定子叠片表面的多个分析部位进行分析来获得分析值,以及将包含在同一批次内作为检测用叠片,由上述检测判断为定子叠片的平整度合格出厂。 |
申请公布号 |
CN106524953A |
申请公布日期 |
2017.03.22 |
申请号 |
CN201611066422.4 |
申请日期 |
2017.01.04 |
申请人 |
南通沃特光电科技有限公司 |
发明人 |
王汉清 |
分类号 |
G01B11/30(2006.01)I |
主分类号 |
G01B11/30(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种对定子叠片的平整度检测方法,其特征在于, 它包括下述步骤: 通过分析方法1对定子叠片表面的多个分析部位进行分析来获得分析值,其中,分析方法1包括因检测对象偏移基准位置越多则用于检测的分析值越小M,因检测对象偏移基准位置越多则用于检测的分析值越大V,和在多个分析部位中,估算出定子叠片易出现不平整的分析部位的数量P;其中:当通过因检测对象偏移基准位置越多则用于检测的分析值越小M时,所有分析部位的分析值按升序排列,从最小值数到第i个部位时的分析值Mi若小于或等于由加权函数规定的正常值的下限值,则判断出检测对象的不平整性存在,若分析值Mi超过由加权函数规定的正常值的下限值,则判断出检测对象不平整性不存在;以及当因检测对象偏移基准位置越多则用于检测的分析值越大V时,所有分析部位的分析值按升序排列,从最大值数到第n个部位时的分析值Vn若大于或等于由加权函数规定的正常值的上限值,则判断出检测对象不平整性存在,若分析值Vn小于由加权函数规定的正常值的上限值,则判断出检测对象不平整性不存在,其中1≤i≤P,1≤n≤P,i、n为自然数。 |
地址 |
226300 江苏省南通市南通高新区新世纪大道266号科技之窗 |