发明名称 |
系统级封装及用于制造系统级封装的方法 |
摘要 |
本发明提供了一种系统级封装,包括重分布层(RDL)结构,具有第一侧以及与所述第一侧相对的第二侧;第一半导体晶片,安装在所述RDL结构的第一侧上,其中,所述第一半导体晶片具有与所述RDL结构直接接触的活性表面;多个导电指,位于所述第一半导体晶片周围的所述RDL结构的第一侧上;第二半导体晶片,直接堆叠在所述第一半导体晶片上,其中,所述第二半导体晶片通过多个接合引线电连接至所述多个导电指;以及模套,封装所述第一半导体晶片、所述导电指、所述第二半导体晶片和所述RDL结构的所述第一侧。此外,本发明还提供了一种用于制造系统级封装的方法。采用本发明,可以提高布线灵活性。 |
申请公布号 |
CN106531715A |
申请公布日期 |
2017.03.22 |
申请号 |
CN201610674477.7 |
申请日期 |
2016.08.16 |
申请人 |
联发科技股份有限公司 |
发明人 |
刘兴治;周哲雅 |
分类号 |
H01L23/498(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/498(2006.01)I |
代理机构 |
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 |
代理人 |
何青瓦 |
主权项 |
一种系统级封装,其特征在于,包括:重分布层RDL结构;第一半导体晶片,安装在所述RDL结构的第一侧上,其中,所述第一半导体晶片具有与所述RDL结构直接接触的活性表面;第二半导体晶片;多个导电指,位于所述RDL结构的第一侧上;多个接合引线,用于将所述第二半导体晶片电连接至所述多个导电指;以及模套,封装所述第一半导体晶片、所述导电指、所述接合引线、所述第二半导体晶片和所述RDL结构的所述第一侧。 |
地址 |
中国台湾新竹市新竹科学工业园区笃行一路一号 |