发明名称 変位測定装置
摘要 【課題】変位を増幅させることで微小な変位であっても精度よく測定することが可能な変位測定装置を提供する。【解決手段】光軸Sの直交方向の変位を測定する変位測定装置1である。そして、レーザー光の照射部21と、レーザー光を2回反射させることで、入射光路S1とは光軸の直交方向の位置が異なり、かつ入射光路と略平行な出射光路S3を生成する直角反射ミラー部3と、測定対象に取り付けられた直角反射ミラー部で反射された出射光路の受光位置の検出が可能なPSD素子部22とを備えている。このPSD素子部によって検出された受光位置から入射光路と出射光路との距離L1,L3が算出される。【選択図】図1
申请公布号 JP2017053772(A) 申请公布日期 2017.03.16
申请号 JP20150178760 申请日期 2015.09.10
申请人 公益財団法人鉄道総合技術研究所 发明人 徳永 宗正
分类号 G01B11/00 主分类号 G01B11/00
代理机构 代理人
主权项
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