发明名称 探傷プローブおよび探傷方法
摘要 【課題】金属表面において細かい凹凸が連続する場合であっても、磁場の変化を適切に検出する。【解決手段】探傷プローブ12は、基板20と、配置された面の面方向の磁場を検出する4つの磁気センサ24a、24b、24c、24dと、4つの磁気センサそれぞれの検出結果の相対量に基づく信号を出力する信号出力部26と、を備え、基板の表面に、予め定められた探索方向に並ぶ2つの磁気センサの組み合わせが、探索方向に直交する探索直交方向に対向して2組配置されることを特徴とする。【選択図】図1
申请公布号 JP2017053635(A) 申请公布日期 2017.03.16
申请号 JP20150175633 申请日期 2015.09.07
申请人 株式会社IHI 发明人 津田 明憲;河井 寛記;田村 尚之;畠中 宏明
分类号 G01N27/90 主分类号 G01N27/90
代理机构 代理人
主权项
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