发明名称 検査装置
摘要 基板に形成されたはんだランドの検査において、信頼性を保持しつつ、検査時間を短くする。スクリーン印刷機において作業条件が変更されると全数検査が行われる。全数検査において、すべてのはんだランドが良好であると評価された枚数が設定枚数に達すると一部検査が行われる。一部検査において、不良(S6)、Warning(S7)であると評価されると枚数カウンタがクリアされ(S10,11)、全数検査に切り換えられる(S5)。また、一部検査において基板待ち時間が検査要判定時間以上になると(S3:YES)、スクリーン印刷機において、塗布される予定のはんだが放置されることによりはんだの特性が変化し、良好に塗布されないと推定される。枚数カウンタがクリアされて(S14)、全数検査が行われる(S5)。このように、検査結果の信頼性を保持しつつ、検査時間を短くすることができる。
申请公布号 JPWO2015075776(A1) 申请公布日期 2017.03.16
申请号 JP20150548904 申请日期 2013.11.19
申请人 富士機械製造株式会社 发明人 齋藤 達美
分类号 H05K3/34;G01N21/956 主分类号 H05K3/34
代理机构 代理人
主权项
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