发明名称 半導体記憶装置及びメモリシステム
摘要 【課題】メモリセルトランジスタの劣化を抑制できる半導体記憶装置及びメモリシステムを提供すること。【解決手段】実施形態に係る半導体記憶装置は、第1及び第2動作モードを有し、メモリセルトランジスタとワード線とを備える。メモリセルトランジスタには、データを消去する場合、消去パルスが印加され、データを書き込む場合、プログラムパルスが印加される。第1動作モードにある際には、第1期間、消去パルスまたはプログラムパルスが印加されることにより、バックゲートとワード線との電位差が第1電位差とされる。第2動作モードにある際には、第1期間より長い第2期間、消去パルスまたはプログラムパルスが印加されることにより、バックゲートとワード線との電位差が、第1電位差より小さい第2電位差とされる。【選択図】図5
申请公布号 JP2017054561(A) 申请公布日期 2017.03.16
申请号 JP20150175763 申请日期 2015.09.07
申请人 株式会社東芝 发明人 小玉 枝梨華;岩井 斎
分类号 G11C16/02;G11C16/04 主分类号 G11C16/02
代理机构 代理人
主权项
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