发明名称 光検出装置、および光検出システム
摘要 【課題】被写体を透過または反射する光のコヒーレンスの度合いを煩雑な操作を行うことなく測定できる光検出技術を提供する。【解決手段】主面を有し、前記主面に沿って配置された複数の光検出器10と、前記光検出器上に配置され、第1の低屈折率層12c、前記第1の低屈折率層上に配置され、第1のグレーティングを含む第1の高屈折率層12b、および前記第1の高屈折率層上に配置された第2の低屈折率層12aを含み、前記第1の高屈折率層は前記第1の低屈折率層および前記第2の低屈折率層より屈折率が高い、光結合層12と、前記光結合層上に配置され、少なくとも1つの透光領域9a、および前記少なくとも1つの透光領域に隣接する少なくとも1つの遮光領域9Aを含み、前記少なくとも1つの透光領域は前記少なくとも1つの検出器に対向しており、前記少なくとも1つの遮光領域は前記少なくとも1つの他の検出器に対向している、遮光膜9と、を備える。【選択図】図2A
申请公布号 JP2017053866(A) 申请公布日期 2017.03.16
申请号 JP20160214020 申请日期 2016.11.01
申请人 パナソニックIPマネジメント株式会社 发明人 西脇 青児
分类号 G01N21/17 主分类号 G01N21/17
代理机构 代理人
主权项
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