发明名称 半導体装置の製造方法
摘要 半導体ウェハ(2)の部にデバイス領域(17)を形成し、デバイス領域(17)の外周にデバイス領域(17)よりも厚いリング状補強部(18)を形成する。デバイス領域(17)とリング状補強部(18)を形成した後に半導体ウェハ(2)にウェット処理を行う。ウェット処理を行った後に、半導体ウェハ(2)を回転させて乾燥させる。半導体ウェハ(2)の中心位置とリング状補強部(18)の中心位置が異なる。
申请公布号 JPWO2015079489(A1) 申请公布日期 2017.03.16
申请号 JP20150550228 申请日期 2013.11.26
申请人 三菱電機株式会社 发明人 中田 和成
分类号 H01L21/304 主分类号 H01L21/304
代理机构 代理人
主权项
地址