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发明名称
半導体装置の製造方法
摘要
半導体ウェハ(2)の部にデバイス領域(17)を形成し、デバイス領域(17)の外周にデバイス領域(17)よりも厚いリング状補強部(18)を形成する。デバイス領域(17)とリング状補強部(18)を形成した後に半導体ウェハ(2)にウェット処理を行う。ウェット処理を行った後に、半導体ウェハ(2)を回転させて乾燥させる。半導体ウェハ(2)の中心位置とリング状補強部(18)の中心位置が異なる。
申请公布号
JPWO2015079489(A1)
申请公布日期
2017.03.16
申请号
JP20150550228
申请日期
2013.11.26
申请人
三菱電機株式会社
发明人
中田 和成
分类号
H01L21/304
主分类号
H01L21/304
代理机构
代理人
主权项
地址
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